KARL DEUTSCH涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042參數(shù)簡介
王新宇
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KARL DEUTSCH自1949公司成立以來，一直致力于研發(fā)和生產(chǎn)無損檢測(cè)儀器和設(shè)備，是個(gè)傳統(tǒng)的家族企業(yè)。產(chǎn)品包括便攜式儀器，臺(tái)式儀器， 探頭和滲透裂紋檢測(cè)劑。典型的檢測(cè)任務(wù)是超聲波焊縫檢測(cè)，鑄件缺陷檢驗(yàn)，用磁粉或滲透方法對(duì)鍛件裂紋檢測(cè)，軌道交通和航空安全系統(tǒng)中的部件檢測(cè)，以及壁厚和涂層厚度測(cè)量。
KARL DEUTSCH涂層測(cè)厚儀(帶探頭)LEPTOSKOP 2042：
大型圖形顯示48毫米×24毫米，帶照明
校準(zhǔn)選項(xiàng)：
出廠前校準(zhǔn)，立刻準(zhǔn)備測(cè)量
校準(zhǔn)未知涂層
零點(diǎn)校準(zhǔn)
未涂覆基材之一，多箔校準(zhǔn)
涂層材料校準(zhǔn)
校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以單獨(dú)存儲(chǔ)在單獨(dú)的校準(zhǔn)文件，并可以重新裝載
可選的顯示模式，以獲得適應(yīng)測(cè)量任務(wù)
輸入和監(jiān)控限制
Windows下讀數(shù)存儲(chǔ)，方便文件管理
可用的PC軟件EasyExport和ICOM
多達(dá)999個(gè)讀數(shù)統(tǒng)計(jì)評(píng)估
最小值，最大值，平均值，讀數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差，監(jiān)測(cè)極限
局部厚度和平均涂層厚度（DINEN ISO2808）
技術(shù)參數(shù)：
串行接口：將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB瑗緣ww王王
電源：通過電池，USB或電源裝置
測(cè)量范圍：0 -20000微米（取決于探頭）
測(cè)量速率：高達(dá)每秒2讀數(shù)
存儲(chǔ)：最大9999，讀數(shù)高達(dá)140文件
測(cè)量不確定度（校準(zhǔn)后）
涂層厚度<100微米：讀數(shù)+/-1微米的1％
涂層厚度>100微米：讀數(shù)+/-1微米的1..3％
涂層厚度>1000微米：讀數(shù)+/-10微米的3..5％
涂層厚度> 10000微米：讀數(shù)+/- 100微米的5％
型號(hào)：
2442.100探頭
2442.110探頭
2442.120探頭
2442.130探頭
2442.140探頭
2442.200雙極探頭
2442.300微探探頭
2442.310微型探頭
2442.320微型探頭
2442.330微型探頭
2442.340微型探頭
2442.350微型探頭
2442.410微型探頭
2632.002微型探頭
KARL DEUTSCH涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042參數(shù)簡介
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